电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜

发布者:admin 发布时间:2019-10-24 18:37 浏览次数:

  电导率-赛贝克系数扫描探针显微镜技术由德国 Panco 公司和德国宇航中心公共研制开发,可以测量样品的电导率和赛贝克系统的空间分布状况,是研究热电材料的最新利器。

  应用领域1、热电材料,超导材料,燃料电池,导电陶瓷以及半导体材料的均匀度测量2、测量功能梯度材料的梯度3、观察功能梯度材料的梯度效应4、监测 NTC/PTC 材料的电阻漂移5、导电固体中的传导损耗6、阴极材料的电导率损耗7、GMR 材料峰值温度的降低,电阻率的变化8、样品的质量监控系统组成部分1、三矢量轴定位平台及其控制器2、热量克测量的测温探针3、接触探测系统4、模拟多路器5、数字电压表6、锁相放大器7、摄像探头8、带有专用控制软件和 GPIB 总线、样品架


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